GB/T 30854-2014
LED照明用窒化ガリウム系エピタキシャルウェーハ (英語版)

規格番号

GB/T 30854-2014

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2014

出版団体

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

最新版

GB/T 30854-2014

範囲

この規格は、LED照明用GaN系エピタキシャルウェーハ（以下、エピタキシャルウェーハ）の要件、検査方法と規則、マーキング、梱包、輸送、保管、品質証明書および注文書（または契約書）を規定しています。 この規格は、LED 照明用の窒化ガリウムベースのエピタキシャル ウェーハに適用されます。

GB/T 30854-2014 規範的参照

• GB/T 13387 シリコン等の電子材料ウエハの基準面長の測定方法
• GB/T 14140 シリコンウェーハの直径測定方法
• GB/T 14142 シリコンエピタキシャル層結晶健全性検査法 腐食法*， 2017-09-29 更新するには
• GB/T 14264 半導体材料用語
• GB/T 14844 半導体材料グレードの表現方法*， 2018-12-28 更新するには
• GB/T 191 包装、保管、輸送の絵標識
• GB/T 2828.1 目録抜き取り検査手順その1：合格品質限界（AQL）から探すロットごとの抜き取り検査計画
• GB/T 4326 固有半導体単結晶ホール移動度とホール係数の測定方法
• GB/T 6618 シリコンウェーハの厚みと総厚みばらつき試験方法
• GB/T 6619 シリコンウェーハの曲げ試験方法
• GB/T 6620 シリコンウェーハの反りの非接触検査方法
• SJ/T 11399 半導体発光ダイオードチップの検査方法

GB/T 30854-2014 発売履歴

• 2014 GB/T 30854-2014 LED照明用窒化ガリウム系エピタキシャルウェーハ