SJ/T 11399-2009
半導体発光ダイオードチップの検査方法 (英語版)

規格番号

SJ/T 11399-2009

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2009

出版団体

Professional Standard - Electron

最新版

SJ/T 11399-2009

範囲

この規格は、半導体発光ダイオードチップの放射測定、測光、比色測定、電気パラメータ、熱パラメータおよび電磁適合性の試験方法を指定します。 この規格は可視光半導体発光ダイオードチップに適用されます。 紫外・赤外発光ダイオードチップやエピタキシャルウエハの検査をリファレンスとして実施できます。

SJ/T 11399-2009 規範的参照

• GB/T 11499-2001 半導体ディスクリートデバイスのテキストシンボル
• GB/T 15651-1995 半導体デバイス ディスクリートデバイスおよび集積回路 第5部：光電子デバイス
• GB/T 5698-2001 色の用語
• SJ/T 11394-2009 半導体発光ダイオードの試験方法

SJ/T 11399-2009 発売履歴

• 2009 SJ/T 11399-2009 半導体発光ダイオードチップの検査方法