GB/T 17473.7-2008
マイクロエレクトロニクスで使用される貴金属スラリーの試験方法 はんだ付け性とはんだ耐性の測定 (英語版)

規格番号

GB/T 17473.7-2008

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2008

出版団体

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

状態

入れ替わる 2022-10

に置き換えられる

GB/T 17473.7-2022

最新版

GB/T 17473.7-2022

交換する

GB/T 17473.7-1998

範囲

このパートでは、マイクロエレクトロニクス技術用の貴金属はんだ付け可能ペーストのはんだ付け性とはんだ耐性の測定方法を規定します。 この部分は、マイクロエレクトロニクス技術用の貴金属はんだ付け可能ペーストのはんだ付け性とはんだ耐性の測定に適用できます。

GB/T 17473.7-2008 発売履歴

• 2022 GB/T 17473.7-2022 マイクロエレクトロニクス技術で使用される貴金属スラリーの試験方法 パート 7: はんだ付け性とはんだ耐性の測定
• 2008 GB/T 17473.7-2008 マイクロエレクトロニクスで使用される貴金属スラリーの試験方法 はんだ付け性とはんだ耐性の測定
• 1998 GB/T 17473.7-1998 厚膜マイクロエレクトロニクス技術で使用される貴金属スラリーの試験方法 はんだ付け性およびはんだ耐性試験

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