GB/T 17473.7-1998
厚膜マイクロエレクトロニクス技術で使用される貴金属スラリーの試験方法 はんだ付け性およびはんだ耐性試験 (英語版)

規格番号

GB/T 17473.7-1998

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

1998

出版団体

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

状態

入れ替わる 2008-09

に置き換えられる

GB/T 17473.7-2008

最新版

GB/T 17473.7-2022

範囲

この規格は、貴金属はんだ付け可能ペーストのはんだ付け性およびはんだ耐性の試験方法を指定します。 この規格は、貴金属はんだ付け可能ペーストのはんだ付け性およびはんだ付け性テストに適用されます。 非貴金属錫ペーストも基準として使用できます。

GB/T 17473.7-1998 発売履歴

• 2022 GB/T 17473.7-2022 マイクロエレクトロニクス技術で使用される貴金属スラリーの試験方法 パート 7: はんだ付け性とはんだ耐性の測定
• 2008 GB/T 17473.7-2008 マイクロエレクトロニクスで使用される貴金属スラリーの試験方法 はんだ付け性とはんだ耐性の測定
• 1998 GB/T 17473.7-1998 厚膜マイクロエレクトロニクス技術で使用される貴金属スラリーの試験方法 はんだ付け性およびはんだ耐性試験

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