GB/T 17473.5-2008
マイクロエレクトロニクスで使用される貴金属スラリーの試験方法 粘度測定 (英語版)

規格番号

GB/T 17473.5-2008

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2008

出版団体

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

最新版

GB/T 17473.5-2008

交換する

GB/T 17473.5-1998

範囲

この部分では、マイクロエレクトロニクス用の貴金属ペーストの粘度を決定する方法を指定します。 このセクションは、マイクロエレクトロニクスで使用される貴金属ペーストの粘度の測定に適用されます。

GB/T 17473.5-2008 規範的参照

• GB/T 8170 数値の丸め規則と極値の表現と決定*， 2008-07-16 更新するには

GB/T 17473.5-2008 発売履歴

• 2008 GB/T 17473.5-2008 マイクロエレクトロニクスで使用される貴金属スラリーの試験方法 粘度測定
• 1998 GB/T 17473.5-1998 厚膜マイクロエレクトロニクス粘度測定用の貴金属スラリーの試験方法

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