GB/T 17473.1-2008
マイクロエレクトロニクスで使用される貴金属スラリーの試験方法 固形分の測定 (英語版)

規格番号

GB/T 17473.1-2008

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2008

出版団体

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

最新版

GB/T 17473.1-2008

交換する

GB/T 17473.1-1998

範囲

この部分では、マイクロエレクトロニクス技術用の貴金属スラリー中の固形分の試験方法を規定します。 このセクションは、さまざまな焼結および硬化マイクロエレクトロニクス技術用の貴金属ペーストの固形分含有量の決定に適用されます。

GB/T 17473.1-2008 規範的参照

• GB/T 8170 数値の丸め規則と極値の表現と決定*， 2008-07-16 更新するには

GB/T 17473.1-2008 発売履歴

• 2008 GB/T 17473.1-2008 マイクロエレクトロニクスで使用される貴金属スラリーの試験方法 固形分の測定
• 1998 GB/T 17473.1-1998 厚膜マイクロエレクトロニクス用の貴金属スラリーの試験方法 - 固形分の測定

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