GB/T 17473.6-2008
マイクロエレクトロニクスで使用される貴金属スラリーの試験方法 分解能の測定 (英語版)

規格番号

GB/T 17473.6-2008

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2008

出版団体

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

最新版

GB/T 17473.6-2008

交換する

GB/T 17473.6-1998

範囲

この部分では、マイクロエレクトロニクス技術で使用される貴金属ペーストの解像度の決定方法を規定します。 このセクションは、マイクロエレクトロニクス技術で使用される貴金属ペーストの解像度の決定に適用されます。

GB/T 17473.6-2008 規範的参照

• GB/T 8170 数値の丸め規則と極値の表現と決定*， 2008-07-16 更新するには

GB/T 17473.6-2008 発売履歴

• 2008 GB/T 17473.6-2008 マイクロエレクトロニクスで使用される貴金属スラリーの試験方法 分解能の測定
• 1998 GB/T 17473.6-1998 厚膜マイクロエレクトロニクス技術のための貴金属スラリー試験法の解像度決定

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