GB/T 17473.6-1998
厚膜マイクロエレクトロニクス技術のための貴金属スラリー試験法の解像度決定 (英語版)
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GB/T 17473.6-1998
規格番号
GB/T 17473.6-1998
言語
中国語版,
英語で利用可能
制定年
1998
出版団体
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
状態
入れ替わる
2008-09
に置き換えられる
GB/T 17473.6-2008
最新版
GB/T 17473.6-2008
範囲
この規格は、貴金属ペーストの分離の試験方法を指定します。 この規格は、貴金属ペーストの分離の決定に適用されます。 非貴金属ペーストもリファレンスとして使用できます。
GB/T 17473.6-1998 発売履歴
2008
GB/T 17473.6-2008
マイクロエレクトロニクスで使用される貴金属スラリーの試験方法 分解能の測定
1998
GB/T 17473.6-1998
厚膜マイクロエレクトロニクス技術のための貴金属スラリー試験法の解像度決定
GB/T 17473.6-1998 - すべての部品
GB/T 17473.1-2008 マイクロエレクトロニクスで使用される貴金属スラリーの試験方法 固形分の測定
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GB/T 17473.6-2008 マイクロエレクトロニクスで使用される貴金属スラリーの試験方法 分解能の測定
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