GB/T 17473.4-1998
厚膜マイクロエレクトロニクス技術のための貴金属スラリー試験方法 密着性測定 (英語版)

規格番号

GB/T 17473.4-1998

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

1998

出版団体

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

状態

入れ替わる 2008-09

に置き換えられる

GB/T 17473.4-2008

最新版

GB/T 17473.4-2008

範囲

この規格は、貴金属ペーストの付着性の試験方法を規定しています。 この規格は貴金属導体ペーストの密着性の判定に適用でき、非貴金属ペーストも基準として使用できます。

GB/T 17473.4-1998 発売履歴

• 2008 GB/T 17473.4-2008 マイクロエレクトロニクスで使用される貴金属スラリーの試験方法 付着力の測定
• 1998 GB/T 17473.4-1998 厚膜マイクロエレクトロニクス技術のための貴金属スラリー試験方法 密着性測定

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