GB/T 17473.2-1998
厚膜マイクロエレクトロニクス技術用の貴金属スラリーの粉末度測定の試験方法 (英語版)

規格番号

GB/T 17473.2-1998

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

1998

出版団体

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

状態

入れ替わる 2008-09

に置き換えられる

GB/T 17473.2-2008

最新版

GB/T 17473.2-2008

範囲

この規格は、貴金属ペーストの細かさのスクレーパー試験方法を規定しています。 この規格は、貴金属ペーストの細かさの決定に適用されます。 非貴金属ペーストの繊度測定も参考になります。

GB/T 17473.2-1998 発売履歴

• 2008 GB/T 17473.2-2008 マイクロエレクトロニクス技術で使用される貴金属スラリーの試験方法 粉末度の測定
• 1998 GB/T 17473.2-1998 厚膜マイクロエレクトロニクス技術用の貴金属スラリーの粉末度測定の試験方法

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