ISO 7503-3:2016
放射性物質の測定 表面汚染の測定と評価 パート 3: 機器の校正

規格番号
ISO 7503-3:2016
制定年
2016
出版団体
International Organization for Standardization (ISO)
状態
に置き換えられる
ISO 7503-3:2016/Amd 1:2018
最新版
ISO 7503-3:2016/Amd 1:2018

ISO 7503-3:2016 規範的参照

  • IEC 60325:2002 放射線防護機器 アルファ、ベータ、アルファ/ベータ (60 keV を超えるベータエネルギー) 汚染測定機器およびモニター
  • ISO 11929:2010 電離放射線測定の特性限界(判定閾値、検出限界、信頼区間限界)の決定 基本原理と応用
  • ISO 11932:1996 非放射性廃棄物としてリサイクル、再利用、または処分することを目的とした固体材料の放射能の測定
  • ISO 7503-1:2016 放射性物質の測定 表面汚染の測定と評価 パート 1: 一般原則
  • ISO 7503-2:2016 放射能測定 表面汚染の測定と評価 第 2 部:拭き取り試験片を用いた試験方法
  • ISO 80000-10:2009 量と単位 パート 10: 原子核物理学
  • ISO 80000-1:2009 数量と単位 パート 1: 一般
  • ISO 8769:2016 標準放射線源 表面汚染モニターの校正 アルファ、ベータ、フォトンエミッター
  • ISO/IEC 17025:2005 試験所および校正機関の能力に関する一般要件
  • ISO/IEC GUIDE 98-3:2008 測定の不確かさ パート 3: 測定の不確かさの表現に関するガイドライン (GUM-1995)
  • ISO/IEC GUIDE 99:2007 計測学の国際語彙 基本的および一般的な概念および関連用語 (VIM)

ISO 7503-3:2016 発売履歴

  • 2016 ISO 7503-3:2016/Amd 1:2018
  • 2016 ISO 7503-3:2016 放射性物質の測定 表面汚染の測定と評価 パート 3: 機器の校正
  • 1996 ISO 7503-3:1996 表面汚染評価パート 3: 等方性遷移と電子捕獲エミッター、低エネルギー ベータ エミッター (最大ベータ エネルギー 0.15 MeV 未満)
放射性物質の測定 表面汚染の測定と評価 パート 3: 機器の校正



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