ISO 7503-3:2016/Amd 1:2018
放射能の測定 ― 表面汚染の測定と評価 ― 第 3 部：装置の校正

規格番号

ISO 7503-3:2016/Amd 1:2018

制定年

2018

出版団体

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最新版

ISO 7503-3:2016/Amd 1:2018

ISO 7503-3:2016/Amd 1:2018 発売履歴

• 2018 ISO 7503-3:2016/Amd 1:2018 放射能の測定 ― 表面汚染の測定と評価 ― 第 3 部：装置の校正
• 2016 ISO 7503-3:2016 放射性物質の測定 表面汚染の測定と評価 パート 3: 機器の校正
• 1996 ISO 7503-3:1996 表面汚染評価パート 3: 等方性遷移と電子捕獲エミッター、低エネルギー ベータ エミッター (最大ベータ エネルギー 0.15 MeV 未満)