ISO 29301:2017
マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡法、周期構造を持つ標準物質の画像倍率を校正する方法。
- 規格番号
- ISO 29301:2017
- 制定年
- 2017
- 出版団体
- International Organization for Standardization (ISO)
- 状態
- に置き換えられる
- ISO 29301:2023
- 最新版
- ISO 29301:2023
- 範囲
- この文書は、透過型電子顕微鏡 (TEM) で広い倍率範囲にわたって記録された画像に適用できるキャリブレーション手順を指定します。 校正に使用する標準物質は、回折格子のレプリカ、半導体やX線分析用の分光結晶などの超格子構造、カーボン、金、シリコンなどの結晶格子像などの周期構造を持ったものです。 本書は、写真フィルムやイメージングプレートに記録されたTEM像、またはデジタルカメラに内蔵されたイメージセンサーで検出したTEM像の倍率に適用されます。 この文書では、スケール バーの校正についても説明します。 この文書は、専用の限界寸法測定 TEM (CD-TEM) および走査透過電子顕微鏡 (STEM) には適用されません。
ISO 29301:2017 規範的参照
- ISO 16700:2016 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
- ISO 17034:2016 標準物質製造者資格の一般要件
- ISO 5725-1:1994 試験方法と結果の正確さ（正確性と精度） 第 1 部：基本原則と定義
- ISO GUIDE 30:2015 ベースライン資料 用語と定義を選択してください
- ISO GUIDE 35:2017 標準物質の認証 一般原則と統計原則
- ISO/IEC 17025:2005 試験所および校正機関の能力に関する一般要件
- ISO/IEC GUIDE 98-3:2008 測定の不確かさ パート 3: 測定の不確かさの表現に関するガイドライン (GUM-1995)
ISO 29301:2017 発売履歴
- 2023 ISO 29301:2023 マイクロビーム解析 周期構造を有する標準物質を使用した画像倍率の校正のための分析電子顕微鏡法
- 2017 ISO 29301:2017 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡法、周期構造を持つ標準物質の画像倍率を校正する方法。
- 2010 ISO 29301:2010 マイクロビーム分析 分析透過型電子顕微鏡法 周期構造を持つ標準物質の画像倍率を校正する方法
