ASTM E925-09(2014)
スペクトルスリット幅が 2 nm を超えない可視紫外分光光度計の校正モニタリングの標準的な方法
- 規格番号
- ASTM E925-09(2014)
- 制定年
- 2009
- 出版団体
- American Society for Testing and Materials (ASTM)
- 状態
- に置き換えられる
- ASTM E925-09(2022)
- 最新版
- ASTM E925-09(2022)
- 範囲
- 4.1 この実践により、分析者は機器の性能をメーカーが提供する性能仕様と比較し、継続的な日常使用に対する適合性を検証することができます。 また、定期的に校正監視データを生成し、機器の性能の変化を明らかにするためのベースを形成します。 1.1&# この演習では、200 ～ 700 nm の波長範囲および 0 ～ 2 の吸光度範囲内で、ほとんどの日常的なテストおよび方法 2 の機器の適切性をテストするために重要な分光測光性能のパラメーターをカバーします。 テストは、分光測光法の結果を制御する重要なパラメータの測定を提供しますが、機器の性能のすべての要素が測定されると特に推測されるべきではありません。 1.2 この実施は、スペクトル帯域幅が 2 nm を超えず、波長と吸光度の精度に関するメーカーの仕様が満たされていない機器の性能の重要なテストとして使用できます。 ここで採用されているパフォーマンス許容値を超えています。 この実践では、0.2 ～ 2.0 の範囲にわたる吸光度スケールの誤差について相対相対 ±18201;%、波長スケールの誤差について相対許容誤差 ±1.0 nm を採用しています。 推奨される最大迷放射電力比は 4 × 10-4 では、吸光度 2 で lt;18201;% の吸光度バイアスが得られます。 これらの許容差は、標準物質および一般的なメーカーの認証値の不確実性を十分に超えながら、多くの化学用途に適合するように選択されています。 試験対象機器の波長および吸光度スケールの誤差の仕様。 ユーザーは、最終用途の要件により適した公差値を開発して使用することをお勧めします。 この手順は、定量的なパフォーマンスを継続的に検証し、ある機器のパフォーマンスを他の同様のユニットのパフォーマンスと比較するように設計されています。 機器の性能を広範囲に評価するには、Practice E275 を参照してください。 1.3&# この実践は定期的に実行する必要があり、その頻度は機器が使用される物理的環境によって異なります。 したがって、乱暴に扱われたり、悪条件（粉塵、化学物質の蒸気、振動、またはそれらの組み合わせにさらされる）で使用されるユニットは、そのような条件にさらされないユニットよりも頻繁にテストする必要があります。 この作業は、光学系、検出器、放射エネルギー源などの重要な修理がユニットに行われた後にも実行する必要があります。 1.4&# SI 単位で記載された値は標準とみなされます。 この規格には他の測定単位は含まれません。 1.5&# この規格は、その使用に関連する安全上の懸念がある場合、そのすべてに対処することを目的とするものではありません。 適切な安全衛生慣行を確立し、使用前に規制上の制限の適用可能性を判断することは、この規格のユーザーの責任です。
ASTM E925-09(2014) 規範的参照
- ASTM E131 分子分光法に関連する用語と記号の標準定義
- ASTM E169 紫外可視光定量分析の一般的な手法の標準操作手順
- ASTM E1866 分光光度計の性能試験の標準ガイドラインの確立
- ASTM E275 紫外、可視、近赤外分光光度計の性能を説明および測定するための標準操作手順
- ASTM E387 不透明フィルター法を使用した分光光度計のスプリアス放射パワー比を推定するための標準試験方法
- ISO/IEC 17025 試験および校正ラボの能力に関する一般要件
ASTM E925-09(2014) 発売履歴
- 2022 ASTM E925-09(2022) スペクトル帯域幅が 2 nm を超えない紫外可視分光光度計の校正を監視するための標準的な方法
- 2009 ASTM E925-09(2014) スペクトルスリット幅が 2 nm を超えない可視紫外分光光度計の校正モニタリングの標準的な方法
- 2009 ASTM E925-09 スペクトルスリット幅が 2 nm を超えない紫外可視分光光度計の校正モニタリングの標準的な方法
- 2002 ASTM E925-02 スペクトルスリット幅が 2 nm を超えない紫外可視分光光度計の校正モニタリングの標準的な方法
- 2002 ASTM E925-83(1994)e1 スペクトルスリット幅が 2 nm を超えない紫外可視分光光度計の校正を監視するための標準的な方法
