ASTM E925-02 スペクトルスリット幅が 2 nm を超えない紫外可視分光光度計の校正モニタリングの標準的な方法規格と仕様

範囲: これにより、分析者は機器の性能をメーカーが提供した性能仕様と比較し、継続的な日常使用に対する適合性を検証することができます。また、定期的に校正モニタリングデータを生成し、機器の性能の変化を明らかにするための基礎を形成します。 1.1 この実践では、ほとんどの機器の適切性をテストするために重要な分光測光性能のパラメーターをカバーします。推奨される試験は、200 ～ 700 nm の波長範囲および 0 ～ 2 の吸光度範囲内の日常的な試験および方法です。推奨される試験では、分光測光法の結果を制御する重要なパラメータの測定が提供されますが、特に、すべての要因が影響を受けると推測されるわけではありません。 1.2 この方法は、スペクトルスリット幅が 2 nm を超えず、波長と吸光度の精度に関するメーカーの仕様が性能を超えない機器の性能の重要なテストとして使用できます。ここで使用される公差。この実践では、例示的な許容誤差 177 を使用します。 0.2 ～ 2.0 の範囲の吸光度スケールの誤差は 1 %、波長スケールの誤差は 1.0 nm です。推奨される最大漂遊放射電力比は 4 x 10-4 です。

ASTM E925-02 規範的参照