ASTM E925-83(1994)e1
スペクトルスリット幅が 2 nm を超えない紫外可視分光光度計の校正を監視するための標準的な方法

規格番号

ASTM E925-83(1994)e1

制定年

2002

出版団体

American Society for Testing and Materials (ASTM)

状態

入れ替わる

に置き換えられる

ASTM E925-02

最新版

ASTM E925-09(2022)

ASTM E925-83(1994)e1 発売履歴

• 2022 ASTM E925-09(2022) スペクトル帯域幅が 2 nm を超えない紫外可視分光光度計の校正を監視するための標準的な方法
• 2009 ASTM E925-09(2014) スペクトルスリット幅が 2 nm を超えない可視紫外分光光度計の校正モニタリングの標準的な方法
• 2009 ASTM E925-09 スペクトルスリット幅が 2 nm を超えない紫外可視分光光度計の校正モニタリングの標準的な方法
• 2002 ASTM E925-02 スペクトルスリット幅が 2 nm を超えない紫外可視分光光度計の校正モニタリングの標準的な方法
• 2002 ASTM E925-83(1994)e1 スペクトルスリット幅が 2 nm を超えない紫外可視分光光度計の校正を監視するための標準的な方法