ASTM E925-09(2022)
スペクトル帯域幅が 2 nm を超えない紫外可視分光光度計の校正を監視するための標準的な方法

規格番号

ASTM E925-09(2022)

制定年

2022

出版団体

American Society for Testing and Materials (ASTM)

最新版

ASTM E925-09(2022)

範囲

1.1 この実践では、200 nm ～ 700 nm の波長範囲および 0 ～ 2 の吸光度範囲内で、ほとんどの日常的なテストおよび方法 2 の機器の適切性をテストするために重要な分光測光性能のパラメーターをカバーします。 推奨されるテストでは、以下の測定が提供されます。 分光測光法の結果を制御する重要なパラメータですが、特に機器の性能のすべての要素が測定されると推測されるべきではありません。 1.2 この実施は、スペクトル帯域幅が 2 nm を超えず、波長と吸光度の精度に関するメーカーの仕様がここで採用されている性能許容差を超えない機器の性能の重要なテストとして使用できます。 この実践では、0.2 ～ 2.0 の範囲にわたる吸光度スケールの誤差に対して 61 % の許容誤差、および波長スケールの誤差に対して 61.0 nm の許容誤差を採用しています。 推奨される最大漂遊放射電力比は 4 × 10-4 です。

ASTM E925-09(2022) 規範的参照

• ASTM E131 分子分光法に関連する用語と記号の標準定義
• ASTM E169 紫外可視光定量分析の一般的な手法の標準操作手順
• ASTM E1866 分光光度計の性能試験の標準ガイドラインの確立
• ASTM E275 紫外、可視、近赤外分光光度計の性能を説明および測定するための標準操作手順
• ASTM E387 不透明フィルター法を使用した分光光度計のスプリアス放射パワー比を推定するための標準試験方法
• ISO/IEC 17025 試験および校正ラボの能力に関する一般要件

ASTM E925-09(2022) 発売履歴

• 2022 ASTM E925-09(2022) スペクトル帯域幅が 2 nm を超えない紫外可視分光光度計の校正を監視するための標準的な方法
• 2009 ASTM E925-09(2014) スペクトルスリット幅が 2 nm を超えない可視紫外分光光度計の校正モニタリングの標準的な方法
• 2009 ASTM E925-09 スペクトルスリット幅が 2 nm を超えない紫外可視分光光度計の校正モニタリングの標準的な方法
• 2002 ASTM E925-02 スペクトルスリット幅が 2 nm を超えない紫外可視分光光度計の校正モニタリングの標準的な方法
• 2002 ASTM E925-83(1994)e1 スペクトルスリット幅が 2 nm を超えない紫外可視分光光度計の校正を監視するための標準的な方法