ISO 11938:2012
マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散分光法を使用した元素マッピングの分析方法。

規格番号

ISO 11938:2012

制定年

2012

出版団体

International Organization for Standardization (ISO)

最新版

ISO 11938:2012

範囲

この国際規格は、波長分散分光法を使用した電子マイクロプローブの元素マッピング分析の手順を規定しています。 電子ビームが試料上でデジタル的に移動するマッピング (電子ビーム マッピング) とステージ移動のみでマッピング (広域マッピング) のどちらを選択するかが評価されます。 X線強度生データ法、k値法、校正法、相関法、行列補正法の5種類のデータ処理について説明しています。

ISO 11938:2012 規範的参照

• ISO 14594 微小電子ビーム分析、電子検出微量分析、波長分散分光法の実験パラメータ決定のガイド。*， 2014-10-01 更新するには
• ISO 16592:2006 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、検量線法による鋼の炭素含有量の決定のガイド。
• ISO 17470 マイクロビーム分析 電子プローブ微量分析 波長分散型 X 線分光法による定性点分析ガイド*， 2014-01-01 更新するには
• ISO 22489 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量分析。*， 2016-10-01 更新するには
• ISO 23833 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析 (EPMA)、用語集*， 2013-04-01 更新するには
• ISO 5725-6 試験方法と結果の正確さ（正確性・精度） 第6部：精度値の実務応用 技術正誤表1
• ISO/IEC 17025:2005 試験所および校正機関の能力に関する一般要件

ISO 11938:2012 発売履歴

• 2012 ISO 11938:2012 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散分光法を使用した元素マッピングの分析方法。