ISO 17470:2014
マイクロビーム分析 電子プローブ微量分析 波長分散型 X 線分光法による定性点分析ガイド

規格番号

ISO 17470:2014

制定年

2014

出版団体

International Organization for Standardization (ISO)

最新版

ISO 17470:2014

範囲

This International Standard gives guidance for the identification of elements and the investigation of the presence of specific elements within a specific volume (on a μm3 scale) contained in a specimen, by analysing X-ray spectra obtained using wavelength dispersive X-ray spectrometers on an electron probe microanalyser or on a scanning electron microscope.

ISO 17470:2014 規範的参照

• ISO 14594:2003 微小電子ビーム分析、電子検出微量分析、波長分散分光法の実験パラメータ決定のガイド。

ISO 17470:2014 発売履歴

• 2014 ISO 17470:2014 マイクロビーム分析 電子プローブ微量分析 波長分散型 X 線分光法による定性点分析ガイド
• 2004 ISO 17470:2004 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型X線分光法による質点分析のガイド。