BS ISO 16700:2016
マイクロビーム分析用の走査型電子顕微鏡の画像倍率を校正するためのガイド
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BS ISO 16700:2016
規格番号
BS ISO 16700:2016
制定年
2016
出版団体
British Standards Institution (BSI)
最新版
BS ISO 16700:2016
交換する
BS ISO 16700:2004
BS ISO 16700:2016 規範的参照
ISO 5725-1
測定方法と結果の正確さ(精度と精度) 第 1 部:一般原則と定義
*
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2023-07-01 更新するには
ISO Guide 30
ベースライン資料 用語と定義を選択してください
ISO Guide 34
参考資料作成者の許可に関する一般要件
ISO Guide 35
標準物質の認証 一般原則と統計原則
*
,
2017-08-21 更新するには
ISO/IEC 17025:2005
試験所および校正機関の能力に関する一般要件
ISO/IEC Guide 98-3
測定の不確かさの表現に関するガイドライン (GUM:1995) 任意の数の出力量に拡張
BS ISO 16700:2016 発売履歴
2016
BS ISO 16700:2016
マイクロビーム分析用の走査型電子顕微鏡の画像倍率を校正するためのガイド
2004
BS ISO 16700:2004
微小電子線分析、走査型電子顕微鏡、画像倍率校正ガイド。
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