JIS B 7440-2:2013
幾何学的製品仕様 (GPS) 座標測定機 (CMM) の受け入れおよび再検証テスト パート 2: 寸法測定用の座標測定機

規格番号

JIS B 7440-2:2013

制定年

2013

出版団体

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

最新版

JIS B 7440-2:2013

交換する

JIS B 7440-2:2003

範囲

This Standard specifies the acceptance tests for verifying the performance of a coordinate measuring machine (CMM) used for measuring linear dimensions as stated by the manufacturer. It also specifies the reverification tests that enable the user to periodically reverify the performance of the CMM.

JIS B 7440-2:2013 規範的参照

• ISO/IEC Guide 99 
• ISO/TS 23165:2006 製品の幾何学的数量 (GPS) の技術仕様、座標測定器の試験の不確かさを評価するためのガイドライン
• JIS B 0641-1 製品の幾何学的仕様 (GPS) ワーク測定による検査および測定装置 パート 1: 技術要件への適合性を判断するためのルール
• JIS B 0672-1 製品の幾何学的仕様 (GPS)、幾何学的特性、パート 1: 一般用語と定義
• JIS B 7440-1 幾何製品仕様 (GPS) 座標測定機 (CMM) の受け入れおよび再検証テスト パート 1: 語彙
• JIS B 7440-5 幾何製品仕様書 (GPS) 座標測定システム (CMS) の受け入れおよび再検証テスト パート 5: 座標測定機 (CMM)*， 2022-03-22 更新するには

JIS B 7440-2:2013 発売履歴

• 2013 JIS B 7440-2:2013 幾何学的製品仕様 (GPS) 座標測定機 (CMM) の受け入れおよび再検証テスト パート 2: 寸法測定用の座標測定機
• 2003 JIS B 7440-2:2003 幾何製品仕様 (GPS) 座標測定機 (CMM) の受け入れおよび再検証テスト パート 2: 寸法測定用の座標測定機
• 1997 JIS B 7440-2:1997 三次元測定 第 2 回 三次元測定機の性能評価
• 1987 JIS B 7440:1987 三次元座標測定器の精度試験方法