JIS B 7440-2:1997
三次元測定 第 2 回 三次元測定機の性能評価

規格番号

JIS B 7440-2:1997

制定年

1997

出版団体

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

状態

撤回

に置き換えられる

JIS B 7440-2:2003

最新版

JIS B 7440-2:2013

交換する

JIS B 7440:1987

JIS B 7440-2:1997 発売履歴

• 2013 JIS B 7440-2:2013 幾何学的製品仕様 (GPS) 座標測定機 (CMM) の受け入れおよび再検証テスト パート 2: 寸法測定用の座標測定機
• 2003 JIS B 7440-2:2003 幾何製品仕様 (GPS) 座標測定機 (CMM) の受け入れおよび再検証テスト パート 2: 寸法測定用の座標測定機
• 1997 JIS B 7440-2:1997 三次元測定 第 2 回 三次元測定機の性能評価
• 1987 JIS B 7440:1987 三次元座標測定器の精度試験方法