JIS B 7440-2:2003
幾何製品仕様 (GPS) 座標測定機 (CMM) の受け入れおよび再検証テスト パート 2: 寸法測定用の座標測定機

規格番号

JIS B 7440-2:2003

制定年

2003

出版団体

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

状態

撤回

に置き換えられる

JIS B 7440-2:2013

最新版

JIS B 7440-2:2013

範囲

この規格は，寸法測定におけろ座標測定機の性能が，製造業者の仕様に適合するかどうかを検証するための受入検査について規定する。この規格は，寸法測定における座標測定機の性能を，使用者が定期的に検証するための定期検査についても規定する。

JIS B 7440-2:2003 発売履歴

• 2013 JIS B 7440-2:2013 幾何学的製品仕様 (GPS) 座標測定機 (CMM) の受け入れおよび再検証テスト パート 2: 寸法測定用の座標測定機
• 2003 JIS B 7440-2:2003 幾何製品仕様 (GPS) 座標測定機 (CMM) の受け入れおよび再検証テスト パート 2: 寸法測定用の座標測定機
• 1997 JIS B 7440-2:1997 三次元測定 第 2 回 三次元測定機の性能評価
• 1987 JIS B 7440:1987 三次元座標測定器の精度試験方法