GB/T 28634-2012
マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、バルクサンプル分光法の定量点分析。 (英語版)

規格番号

GB/T 28634-2012

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2012

出版団体

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

最新版

GB/T 28634-2012

範囲

この規格は、電子プローブまたは走査型電子顕微鏡 (SEM) 分光計 (WDS) を使用して、試料間の相互作用によって生成される X 線を介して、サンプルのミクロンスケールの体積内の元素を定量分析するための要件を指定します。 電子ビームとサンプル。 内容は次のとおりです。 --定量分析の原則。 -- この方法に含まれる元素、質量分率、および標準物質の一般的な範囲。 -- 機器の一般要件。 プロセスとレポート。 この規格は電子線の垂直入射に適用され、定量分析用のテストブロックサンプルの表面は滑らかで均一であることが要求されます。 機器やデータ処理ソフトウェアに特別な要件はありません。 ユーザーは、機器の設置条件、詳細な操作手順、および機器の説明書を機器メーカーから入手する必要があります。

GB/T 28634-2012 規範的参照

• GB/T 17359-2012 マイクロビーム解析、エネルギー分光法による定量分析
• GB/T 27025-2008 試験所および校正機関の能力に関する一般要件
• GB/T 4930 マイクロビーム分析および電子プローブマイクロ分析用標準試料の技術的条件に関するガイドライン*， 2021-05-21 更新するには
• ISO 14594 微小電子ビーム分析、電子検出微量分析、波長分散分光法の実験パラメータ決定のガイド。*， 2014-10-01 更新するには

GB/T 28634-2012 発売履歴

• 2012 GB/T 28634-2012 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、バルクサンプル分光法の定量点分析。