IEC 60947-4-3:2011
低電圧開閉装置および制御装置 パート 4-3: コンタクタおよびモータスタータ 非モータ負荷用の AC 半導体コントローラおよびコンタクタ

規格番号
IEC 60947-4-3:2011
制定年
2011
出版団体
International Electrotechnical Commission (IEC)
状態
に置き換えられる
IEC 60947-4-3:1999/AMD2:2011
最新版
IEC 60947-4-3:2020
範囲
IEC 60947 のこの部分は、AC 電気回路の状態をオン状態とオフ状態の間で変更することによって電気的操作を実行することを目的とした、AC 半導体非モーター負荷コントローラーおよびコンタクターに適用されます。 代表的なアプリケーションを表 2 に示します。 コントローラとして、負荷端子の rmsac 電圧の振幅を印加電圧の振幅から継続的にまたは指定された期間減少させるために使用できます。 AC波形の半波周期は、印加電圧の半波周期から変化しません。 これらには、直列機械スイッチング デバイスが含まれる場合があり、定格電圧が 1,000 V ac を超えない回路に接続されることを目的としています。 この規格は、バイパス スイッチング デバイスの有無にかかわらず使用するコントローラーおよびコンタクターを特徴付けます。 この規格で扱われる半導体コントローラおよびコンタクタは、通常、短絡電流を遮断することを目的としていません。 したがって、適切な短絡保護 (8.2.5 を参照) は設置の一部を構成する必要がありますが、必ずしもコントローラー自体の一部である必要はありません。 これに関連して、この規格は、個別の短絡保護デバイスに関連する半導体コントローラおよびコンタクタに対する要件を規定しています。 この規格は、AC および DC モーターの動作には適用されません。 − IEC 60947-4-2 の対象となる低電圧 AC 半導体モーター コントローラーおよびスターター。 − IEC 60146 の対象となる電子 AC 電源コントローラー。 − 全か無かのソリッドステートリレー。 半導体コントローラおよびコンタクタで使用されるコンタクタおよび制御回路デバイスは、関連する製品規格の要件に準拠する必要があります。 機械式スイッチング デバイスが使用される場合は、独自の IEC 製品規格の要件と、この規格の追加要件を満たす必要があります。 この規格の目的は、a) 半導体コントローラ、コンタクタ、および関連機器の特性を規定することです。 b) 半導体コントローラおよびコンタクタがその動作および動作に関して遵守すべき条件。 − 誘電特性。 − 該当する場合、エンクロージャによって提供される保護の程度。 − その構造。 c) これらの条件が満たされていることを確認することを目的とした試験、およびこれらの試験に採用される方法。 d) 機器または製造元の資料に記載されている情報。

IEC 60947-4-3:2011 規範的参照

  • IEC 60410:1973 計数検査のサンプリング計画と手順
  • IEC 60439-1:1999 低圧開閉装置と制御装置の組み合わせその1：型式試験および部分型式試験に合格した組み合わせ
  • IEC 60664 低電圧システム内の機器の絶縁調整 - すべての部品*， 2011-10-31 更新するには
  • IEC 60947-1:2007 低電圧開閉装置および制御装置 パート 1: 一般規則
  • IEC 60947-4-2:1999 Appareillage A Basse Tension - パート 4: Contacteurs and Demarreurs De Moteurs - Gradateurs Et Demarreurs A Semiconducteurs De Moteurs A Courant Alternatif (Edition 2.0; Amendment 1: 2001-10; Corrigendum 1: March 2002)
  • IEC 61000-3-2:2005 電磁両立性 (EMC) パート 3-2: 制限 高調波電流放射制限 (機器の入力電流は 1 相あたり 16A)
  • IEC 61000-4-11:2004 電磁両立性 (EMC) パート 4-11: テストおよび測定技術 電圧ディップ、短時間停電、および電圧変化に対する耐性のテスト
  • IEC 61000-4-2:2008 電磁両立性 (EMC) パート 4-2: 試験および測定技術 静電気放電イミュニティ試験
  • IEC 61000-4-3:2006 電磁両立性 パート 4-3: 試験および測定技術 放射、高周波および電磁界に対する耐性試験
  • IEC 61000-4-4:2004 電磁両立性 (EMC) パート 4-4: テストおよび測定技術 電気的高速過渡/バースト耐性テスト
  • IEC 61000-4-5:2005 電磁両立性 (EMC) パート 4-5: テストおよび測定技術 サージ耐性テスト
  • IEC 61000-4-6:2008 電磁両立性 (EMC) パート 4-6: テストおよび測定技術 高周波電磁界によって引き起こされる伝導妨害に対する耐性

IEC 60947-4-3:2011 発売履歴

  • 2020 IEC 60947-4-3:2020 低電圧開閉装置および制御装置 パート 4-3 コンタクタおよびモータスタータ 半導体非モータ負荷用の半導体コントローラおよびコンタクタ
  • 2014 IEC 60947-4-3:2014 低電圧開閉装置および制御装置 パート 4-3: コンタクタおよびモータスタータ 非モータ負荷用の AC 半導体コントローラおよびコンタクタ
  • 1970 IEC 60947-4-3:1999/AMD2:2011 修正 2 - 低電圧開閉装置および制御装置 - パート 4-3: コンタクタおよびモータスタータ - 非モータ負荷用の AC 半導体コントローラおよびコンタクタ
  • 2011 IEC 60947-4-3:2011 低電圧開閉装置および制御装置 パート 4-3: コンタクタおよびモータスタータ 非モータ負荷用の AC 半導体コントローラおよびコンタクタ
  • 2007 IEC 60947-4-3:2007 低電圧開閉装置および制御装置 パート 4-3: 電流コンタクタおよびモータスタータ AC 半導体コントローラおよび非モータ負荷用の電流コンタクタ
  • 1970 IEC 60947-4-3:1999/AMD1:2006 修正 1 - 低電圧開閉装置および制御装置 - パート 4-3: コンタクタおよびモータスタータ - 非モータ負荷用の AC 半導体コントローラおよびコンタクタ
  • 1970 IEC 60947-4-3:1999/COR1:2000 正誤表 1 - 低電圧開閉装置および制御装置 - パート 4-3: コンタクタおよびモータスタータ - 非モータ負荷用の AC 半導体コントローラおよびコンタクタ
  • 2000 IEC 60947-4-3/COR:2000 Appareillage A Basse Tension - パート 4-3: Contracteurs Et Demarreurs De Moteurs - Gradateurs Et Contacteurs A Semiconducteurs Pour Charges@ Autres Que Des Moteurs@ A Courant Alternatif (エディション 1.0)
  • 1999 IEC 60947-4-3:1999 低電圧開閉装置および制御装置 パート 4-3: コンタクタおよびモータスタータ 非モータ負荷用の AC 半導体コントローラおよびコンタクタ


© 著作権 2024