IEC 61000-4-5:2005
電磁両立性 (EMC) パート 4-5: テストおよび測定技術 サージ耐性テスト
- 規格番号
- IEC 61000-4-5:2005
- 制定年
- 2005
- 出版団体
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- 状態
- 2014-05
- に置き換えられる
- IEC 61000-4-5/Cor:2009
- 最新版
- IEC 61000-4-5:2014/AMD1:2017
- 範囲
- GB/T 17626 のこの部分では、スイッチングおよび落雷過渡過電圧によって引き起こされるユニポーラ サージ (衝撃) に対する機器のイミュニティ要件、テスト方法、および推奨テスト レベル範囲を指定し、さまざまな環境と設置を指定しています。 このセクションに記載されている要件は、電気および電子機器に適用されます。 このセクションの目的は、サージ (衝撃) を受けたときの電気および電子機器の性能を評価するための共通のベンチマークを確立することです。 この規格は、特定の現象に対する機器またはシステムの耐性を評価するための一貫したテスト方法を指定します。 注: GB/Z18509-'2001 によると、この部品はさまざまな製品委員会で使用される基本的な電磁両立性規格です。 GB/Z 18509...-2001 では、製品委員会はこのイミュニティ試験規格を適用するかどうかを決定する責任があり、使用する場合には、適切なテスト レベルと性能基準を決定する責任も負う必要があると規定されています。 電磁両立性標準化に関する国家技術委員会とその下位技術委員会は、製品委員会と協力して製品の特別な耐性要件を評価することに積極的です。 この部分では、 - テスト レベルの範囲、 - テスト機器、 - テスト構成、 - テスト手順を指定します。 実験室テストの目的は、指定された動作条件で動作しているときに、スイッチングまたは雷によって発生する一定の有害なレベルのサージ (インパルス) 電圧に対する機器の応答を調べることです。 このセクションでは、テスト対象の機器の高電圧絶縁能力はテストされません。 このセクションでは、直撃雷による雷電流の直接注入については考慮しません。
IEC 61000-4-5:2005 発売履歴
- 2017 IEC 61000-4-5:2014/AMD1:2017 電磁両立性 (EMC) パート 4-5: テストおよび測定技術 サージ耐性テスト
- 2017 IEC 61000-4-5:2017 電磁両立性 (EMC) パート 4-5: テストおよび測定技術 サージ耐性テスト
- 2014 IEC 61000-4-5:2014 電磁両立性 (EMC) パート 4-5: テストおよび測定技術 サージ耐性テスト
- 2009 IEC 61000-4-5:2005/COR1:2009 電磁両立性 (EMC) パート 4-5: 試験および測定技術 サージ耐性試験 訂正事項 1
- 2009 IEC 61000-4-5/Cor:2009 Compatibilité électromagnetique (CEM) – パート 4-5: Techniques d’essai et de mesure – Essai d’immunité aux ondes de Choc (Edition 2.0)
- 2005 IEC 61000-4-5:2005 電磁両立性 (EMC) パート 4-5: テストおよび測定技術 サージ耐性テスト
- 2001 IEC 61000-4-5:2001 電磁適合性 パート 4-5: 試験および測定方法 サージ耐性試験
- 1970 IEC 61000-4-5:1995/AMD1:2000 修正 1 - 電磁両立性 (EMC) - パート 4: テストおよび測定技術 - セクション 5: サージ耐性テスト
- 1995 IEC 61000-4-5:1995/COR1:1995 正誤表 1 電磁両立性 (EMC) パート 4-5: テストおよび測定技術 サージ耐性テスト
- 1995 IEC 61000-4-5:1995 電磁両立性 (EMC) パート 4: テストおよび測定技術 セクション 5: サージ耐性テスト
