ASTM B651-83(2010)
ダブルビーム干渉顕微鏡を使用して、ニッケル + クロムまたは銅 + ニッケル + クロム電気めっき表面の腐食領域を測定するための標準的な試験方法

規格番号

ASTM B651-83(2010)

制定年

1983

出版団体

American Society for Testing and Materials (ASTM)

状態

入れ替わる

に置き換えられる

ASTM B651-83(2015)

最新版

ASTM B651-83(2019)

範囲

異なる電気めっきシステムでも、同じ条件下で同じ時間にわたって腐食する可能性があります。 半径または半値幅の平均値、または下層の金属層への侵入の平均値の違いは、システムの相対的な耐食性の重要な尺度になります。 したがって、他のシステムと比較して、特定の電気めっきシステムを備えたサンプルのピット半径が大幅に大きい場合、目に見えるピットの形成により前者の故障が早期に発生する傾向が示されます。 半光沢ニッケル層への浸透が大幅に高い場合、基礎金属の腐食による早期破損の傾向は明らかです。 1.1 この試験方法は、電気めっきされた装飾ニッケルとクロムの腐食部位の平均寸法と数を測定する手段を提供します。 または、コーティングが腐食試験を受けた後、スチール上に銅とニッケルとクロムのコーティングを施したもの。 この試験方法は、さまざまな電気めっきシステムの相対的な耐食性を比較したり、さまざまな腐食環境の相対的な腐食性を比較したりするのに役立ちます。 腐食箇所の数や大きさは外観の劣化に関係します。 電気めっきコーティングが浸透すると、基礎金属の腐食生成物が発生します。 1.2 SI 単位で記載された値は標準とみなします。 1.3 この規格は、その使用に関連する安全上の懸念がある場合、そのすべてに対処することを目的とするものではありません。 適切な安全衛生慣行を確立し、使用前に規制上の制限の適用可能性を判断することは、この規格のユーザーの責任です。

ASTM B651-83(2010) 発売履歴

• 2019 ASTM B651-83(2019) デュアルビーム干渉顕微鏡を使用した、ニッケルプラスクロムまたは銅-ニッケル-ニッケル-クロム電気めっき表面の腐食スポット測定の標準試験方法
• 1983 ASTM B651-83(2015) ダブルビーム干渉顕微鏡を使用して、ニッケル + クロムまたは銅 + ニッケル + クロム電気めっき表面の腐食領域を測定する試験方法
• 1983 ASTM B651-83(2010) ダブルビーム干渉顕微鏡を使用して、ニッケル + クロムまたは銅 + ニッケル + クロム電気めっき表面の腐食領域を測定するための標準的な試験方法
• 1983 ASTM B651-83(2006) ダブルビーム干渉顕微鏡を使用して、ニッケル + クロムまたは銅 + ニッケル + クロム電気めっき表面の腐食領域を測定する試験方法
• 1983 ASTM B651-83(2001) ダブルビーム干渉顕微鏡を使用して、ニッケル + クロムまたは銅 + ニッケル + クロム電気めっき表面の腐食領域を測定する試験方法
• 1983 ASTM B651-83(1995) ダブルビーム干渉顕微鏡を使用して、ニッケル + クロムまたは銅 + ニッケル + クロム電気めっき表面の腐食領域を測定する試験方法