ASTM B651-83(2019) デュアルビーム干渉顕微鏡を使用した、ニッケルプラスクロムまたは銅-ニッケル-ニッケル-クロム電気めっき表面の腐食スポット測定の標準試験方法規格と仕様

範囲: 1.1 この試験方法は、鋼鉄上の電気めっき装飾用ニッケル＋クロムまたは銅＋ニッケル＋クロム被覆の腐食試験後の平均寸法と腐食箇所の数を測定する手段を提供します。この試験方法は、さまざまな電気めっきシステムの相対的な耐食性を比較したり、さまざまな腐食環境の相対的な腐食性を比較したりするのに役立ちます。腐食箇所の数や大きさは外観の劣化に関係します。電気めっきコーティングが浸透すると、基礎金属の腐食生成物が発生します。 1.2 SI 単位で記載された値は標準とみなします。 1.3 この規格は、その使用に関連する安全上の懸念がある場合、そのすべてに対処することを目的とするものではありません。適切な安全、健康、および環境慣行を確立し、使用前に規制上の制限の適用可能性を判断するのは、この規格のユーザーの責任です。 1.4 この国際規格は、世界貿易機関貿易技術障壁 (TBT) 委員会によって発行された国際規格、ガイドおよび推奨事項の開発のための原則に関する決定で確立された、国際的に認められた標準化原則に従って開発されました。

ASTM B651-83(2019) 規範的参照

2019 ASTM B651-83(2019) デュアルビーム干渉顕微鏡を使用した、ニッケルプラスクロムまたは銅-ニッケル-ニッケル-クロム電気めっき表面の腐食スポット測定の標準試験方法
1983 ASTM B651-83(2015) ダブルビーム干渉顕微鏡を使用して、ニッケル + クロムまたは銅 + ニッケル + クロム電気めっき表面の腐食領域を測定する試験方法
1983 ASTM B651-83(2010) ダブルビーム干渉顕微鏡を使用して、ニッケル + クロムまたは銅 + ニッケル + クロム電気めっき表面の腐食領域を測定するための標準的な試験方法
1983 ASTM B651-83(2006) ダブルビーム干渉顕微鏡を使用して、ニッケル + クロムまたは銅 + ニッケル + クロム電気めっき表面の腐食領域を測定する試験方法
1983 ASTM B651-83(2001) ダブルビーム干渉顕微鏡を使用して、ニッケル + クロムまたは銅 + ニッケル + クロム電気めっき表面の腐食領域を測定する試験方法
1983 ASTM B651-83(1995) ダブルビーム干渉顕微鏡を使用して、ニッケル + クロムまたは銅 + ニッケル + クロム電気めっき表面の腐食領域を測定する試験方法