ASTM B651-83(2001) ダブルビーム干渉顕微鏡を使用して、ニッケル + クロムまたは銅 + ニッケル + クロム電気めっき表面の腐食領域を測定する試験方法規格と仕様

範囲: 1.1 この方法は、鋼鉄上の電気めっき装飾用ニッケル＋クロムまたは銅＋ニッケル＋クロム被覆の腐食試験後の平均寸法と腐食箇所の数を測定する手段を提供します。この方法は、異なる電気めっきシステムの相対的な耐食性を比較したり、異なる腐食環境の相対的な腐食性を比較したりするのに役立ちます。腐食箇所の数や大きさは外観の劣化に関係します。電気めっきコーティングが浸透すると、基礎金属の腐食生成物が発生します。 1.2 SI 単位で記載された値は標準とみなします。 1.3 この規格には、危険な物質、作業、および機器が含まれる場合があります。この規格は、その使用に関連するすべての安全上の問題に対処することを目的とするものではありません。この規格を使用する人は、使用前に適切な安全衛生慣行を参照して確立し、規制上の制限の適用可能性を判断する責任があります。

ASTM B651-83(2001) 発売履歴

2019 ASTM B651-83(2019) デュアルビーム干渉顕微鏡を使用した、ニッケルプラスクロムまたは銅-ニッケル-ニッケル-クロム電気めっき表面の腐食スポット測定の標準試験方法
1983 ASTM B651-83(2015) ダブルビーム干渉顕微鏡を使用して、ニッケル + クロムまたは銅 + ニッケル + クロム電気めっき表面の腐食領域を測定する試験方法
1983 ASTM B651-83(2010) ダブルビーム干渉顕微鏡を使用して、ニッケル + クロムまたは銅 + ニッケル + クロム電気めっき表面の腐食領域を測定するための標準的な試験方法
1983 ASTM B651-83(2006) ダブルビーム干渉顕微鏡を使用して、ニッケル + クロムまたは銅 + ニッケル + クロム電気めっき表面の腐食領域を測定する試験方法
1983 ASTM B651-83(2001) ダブルビーム干渉顕微鏡を使用して、ニッケル + クロムまたは銅 + ニッケル + クロム電気めっき表面の腐食領域を測定する試験方法
1983 ASTM B651-83(1995) ダブルビーム干渉顕微鏡を使用して、ニッケル + クロムまたは銅 + ニッケル + クロム電気めっき表面の腐食領域を測定する試験方法