IEC 61298-3:2008
プロセス測定および制御装置 性能評価の一般的な方法と手順 パート 3: 影響を与える量の影響に関するテスト

規格番号

IEC 61298-3:2008

制定年

2008

出版団体

International Electrotechnical Commission (IEC)

最新版

IEC 61298-3:2008

交換する

IEC 65B/687/FDIS:2008 IEC 61298-3:1998

範囲

IEC 61298 のこの部分では、プロセス測定および制御デバイスの機能および性能特性に関するテストを実施し報告するための一般的な方法と手順を規定しています。 このテストは、独自の特定の入力変数と出力変数、および入力と出力間の特定の関係 (伝達関数) によって特徴付けられるデバイスに適用でき、アナログ デバイスやデジタル デバイスも含まれます。 特別なテストを必要とするデバイスの場合は、この規格を、特別なテストを指定する製品固有の規格と一緒に使用する必要があります。 この規格は、影響量の影響のテストを対象としています。

IEC 61298-3:2008 規範的参照

• IEC 60068-2-1 環境試験 パート 2-1: 試験 試験 A: 低温
• IEC 60068-2-2 環境試験 パート 2-2: 試験 試験 B: 乾熱
• IEC 60068-2-6 環境試験 パート2-6：試験 試験Fc：振動（正弦波）
• IEC 60654-1:1993 産業用プロセス計測および制御装置の動作条件 パート 1: 気候条件
• IEC 60654-3:1983 産業用プロセス計測および制御装置の動作条件 第 3 部: 機械的影響
• IEC 61000-4-2:2001 電磁両立性 パート 4-2: 試験および測定方法 静電気放電イミュニティ試験
• IEC 61298-1:1995 プロセス測定および制御装置の性能評価のための一般的な方法と手順 - パート 1: 一般的な考慮事項
• IEC 61298-2:1995 プロセス測定および制御装置の性能評価のための一般的な方法と手順 パート 2: 基準条件下でのテスト
• IEC 61298-4:1995 プロセス計測制御装置の性能評価の一般的な方法と手順 第4部：評価報告書の内容
• IEC 61326 正誤表 1 - 測定、制御、実験室で使用する電気機器 - EMC 要件
• IEC 61326-1:2005 測定、制御および実験室で使用する電気機器 電磁適合性要件 パート 1: 一般要件

IEC 61298-3:2008 発売履歴

• 2008 IEC 61298-3:2008 プロセス測定および制御装置 性能評価の一般的な方法と手順 パート 3: 影響を与える量の影響に関するテスト
• 1998 IEC 61298-3:1998 プロセス測定および制御装置の性能評価のための一般的な方法と手順 パート 3: 影響を与える量の影響のテスト