IEC 61298-3:1998
プロセス測定および制御装置の性能評価のための一般的な方法と手順 パート 3: 影響を与える量の影響のテスト

規格番号

IEC 61298-3:1998

制定年

1998

出版団体

International Electrotechnical Commission (IEC)

状態

入れ替わる 2008-10

に置き換えられる

IEC 61298-3:2008

最新版

IEC 61298-3:2008

範囲

IEC 61298 のこの部分では、プロセス測定および制御デバイスの機能および性能特性に関するテストを実施し報告するための一般的な方法と手順を規定しています。 このテストは、独自の特定の入力変数と出力変数、および入力と出力間の特定の関係 (伝達関数) によって特徴付けられるデバイスに適用でき、アナログ デバイスやデジタル デバイスも含まれます。 特別なテストを必要とするデバイスの場合は、IEC 61298 のこの部分が、特別なテストを指定する製品固有の規格とともに使用されます。 IEC 61298 のこの部分では、影響量の影響に関するテストについて説明します。

IEC 61298-3:1998 発売履歴

• 2008 IEC 61298-3:2008 プロセス測定および制御装置 性能評価の一般的な方法と手順 パート 3: 影響を与える量の影響に関するテスト
• 1998 IEC 61298-3:1998 プロセス測定および制御装置の性能評価のための一般的な方法と手順 パート 3: 影響を与える量の影響のテスト