YS/T 603-2006
焼結銀導体ペースト (英語版)

規格番号
YS/T 603-2006
言語
中国語版, 英語で利用可能
制定年
2006
出版団体
Professional Standard - Non-ferrous Metal
状態
 2024-07
に置き換えられる
YS/T 603-2023
最新版
YS/T 603-2023
範囲
この規格は、焼結銀導体ペーストの要件、試験方法、検査規則とマーキング、梱包、輸送、保管、注文書の内容を規定しています。 この規格は、厚膜ハイブリッド集積回路、圧電セラミックフィルタおよび圧電セラミック共振子、ディスクセラミックコンデンサ、蛍光表示管、霜取り電極、ディスクリート部品回路リード線など用の銀ペースト(以下、銀ペースト)に適用されます。

YS/T 603-2006 規範的参照

  • GB/T 17473.1 マイクロエレクトロニクスで使用される貴金属スラリーの試験方法 固形分の測定*2008-03-31 更新するには
  • GB/T 17473.2 マイクロエレクトロニクス技術で使用される貴金属スラリーの試験方法 粉末度の測定*2008-03-31 更新するには
  • GB/T 17473.3 マイクロエレクトロニクス技術で使用される貴金属スラリーの試験方法 シート抵抗の測定*2008-03-31 更新するには
  • GB/T 17473.4 マイクロエレクトロニクスで使用される貴金属スラリーの試験方法 付着力の測定*2008-03-31 更新するには
  • GB/T 2424.17 電気・電子製品の環境試験 第 2 部: 試験方法 試験 T: はんだ付け試験ガイドライン*2008-12-30 更新するには

YS/T 603-2006 発売履歴

焼結銀導体ペースト



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