IEEE Std 1149.1-2013
アクセス ポートとバウンダリ スキャン アーキテクチャをテストするための IEEE 標準レッドライン

規格番号

IEEE Std 1149.1-2013

制定年

2013

出版団体

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

最新版

IEEE Std 1149.1-2013

範囲

組み立てられたプリント基板のテスト、メンテナンス、サポート、および内部回路のテストを支援するために集積回路に組み込まれる回路が定義されています。 回路には、命令とテストデータが通信される標準インターフェイスが含まれています。 バウンダリ スキャン レジスタを含む一連のテスト機能が定義されているため、コンポーネントは回路...

IEEE Std 1149.1-2013 発売履歴

• 2013 IEEE Std 1149.1-2013 アクセス ポートとバウンダリ スキャン アーキテクチャをテストするための IEEE 標準レッドライン
• 2001 IEEE Std 1149.1-2001 IEEE 標準テスト アクセス ポートとバウンダリ スキャン アーキテクチャ
• 1993 IEEE 1149.1-1993 テストアクセスとバウンダリスキャン構造
• 1990 IEEE Std 1149.1-1990 IEEE 標準テスト アクセス ポートとバウンダリ スキャン アーキテクチャ