IEEE Std 1149.1-2001
IEEE 標準テスト アクセス ポートとバウンダリ スキャン アーキテクチャ
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IEEE Std 1149.1-2001
規格番号
IEEE Std 1149.1-2001
制定年
2001
出版団体
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
状態
入れ替わる
2013-05
に置き換えられる
IEEE Std 1149.1-2013
最新版
IEEE Std 1149.1-2013
範囲
組み立てられたプリント基板のテスト、メンテナンス、サポートを支援するために集積回路に組み込まれる回路が定義されます。 この回路には、命令とテスト データが通信される標準インターフェイスが含まれます。 一連のテスト機能が定義されます。 コンポーネントが最小限の命令セットに応答できるように、バウンダリ スキャン レジスタが含まれます。
IEEE Std 1149.1-2001 発売履歴
2013
IEEE Std 1149.1-2013
アクセス ポートとバウンダリ スキャン アーキテクチャをテストするための IEEE 標準レッドライン
2001
IEEE Std 1149.1-2001
IEEE 標準テスト アクセス ポートとバウンダリ スキャン アーキテクチャ
1993
IEEE 1149.1-1993
テストアクセスとバウンダリスキャン構造
1990
IEEE Std 1149.1-1990
IEEE 標準テスト アクセス ポートとバウンダリ スキャン アーキテクチャ
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