IEEE Std 1149.1-1990
IEEE 標準テスト アクセス ポートとバウンダリ スキャン アーキテクチャ

規格番号

IEEE Std 1149.1-1990

制定年

1990

出版団体

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

状態

入れ替わる

に置き換えられる

IEEE 1149.1-1993

最新版

IEEE Std 1149.1-2013

範囲

組み立てられたプリント基板のテスト、メンテナンス、サポートを支援するために集積回路に組み込まれる回路が定義されます。 この回路には、命令とテスト データが通信される標準インターフェイスが含まれます。 一連のテスト機能が定義されます。 コンポーネントが最小限の命令セットに応答できるように、バウンダリ スキャン レジスタが含まれます。

IEEE Std 1149.1-1990 発売履歴

• 2013 IEEE Std 1149.1-2013 アクセス ポートとバウンダリ スキャン アーキテクチャをテストするための IEEE 標準レッドライン
• 2001 IEEE Std 1149.1-2001 IEEE 標準テスト アクセス ポートとバウンダリ スキャン アーキテクチャ
• 1993 IEEE 1149.1-1993 テストアクセスとバウンダリスキャン構造
• 1990 IEEE Std 1149.1-1990 IEEE 標準テスト アクセス ポートとバウンダリ スキャン アーキテクチャ