GB/T 32998-2016
表面化学分析のためのオージェ電子分光法による帯電制御および補正方法の報告に関する仕様要件 (英語版)

規格番号

GB/T 32998-2016

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2016

出版団体

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

最新版

GB/T 32998-2016

範囲

この規格は、電子励起絶縁試料のオージェ電子分光測定における帯電制御方法を記述するために必要な最小限の情報を規定しており、この情報は分析結果にも報告されます。 AES 分析前または AES 分析中の電荷制御に利用できる方法については、付録 A を参照してください。 表 A.1 は、さまざまな方法とアプローチを簡単な順に並べてまとめたものです。 表 A.1 の方法の中には、ほとんどの機器で利用できるものもありますが、特別なハードウェアを必要とするものや、サンプルのリロードや変更が必要なものもあります。

GB/T 32998-2016 規範的参照

• GB/T 22461-2008 表面化学分析 用語集
• GB/T 29731-2013 表面化学分析 高分解能オージェ電子分光計 元素および化学状態分析のためのエネルギースケール校正
• GB/T 29732-2013 中分解能オージェ電子分光計の元素分析用のエネルギースケール校正（表面化学分析用）

GB/T 32998-2016 発売履歴

• 2016 GB/T 32998-2016 表面化学分析のためのオージェ電子分光法による帯電制御および補正方法の報告に関する仕様要件