ASTM C1576-05(2017)
室温定圧曲げ試験(応力破断)による先進セラミックスの遅い亀裂成長パラメータを決定するための標準試験方法

規格番号
ASTM C1576-05(2017)
制定年
2005
出版団体
American Society for Testing and Materials (ASTM)
最新版
ASTM C1576-05(2017)
範囲
4.1 多くの構造用セラミック部品の耐用年数は、未臨界の亀裂の成長によって制限されることがよくあります。 この試験方法は、周囲温度の特定の環境下でセラミック材料の比較的遅い亀裂成長の感受性を評価するためのアプローチを提供します。 さらに、この試験方法は、新規開発または既存の材料の強度挙動だけでなく、遅い亀裂の成長に対する加工変数と組成の影響を確立する可能性があるため、さらなる修正に向けて材料加工を調整および最適化することができます。 要約すると、この試験方法は、材料開発、品質管理、特性評価、設計コードまたはモデルの検証、および限定的な設計データ生成の目的に使用できます。 注 4:&# この試験方法によって生成されたデータは、使用条件で発生する可能性のある亀裂速度に必ずしも対応するわけではありません。 この試験方法で生成されたデータを設計目的で使用する場合、使用される適用応力の範囲と大きさによっては、外挿や不確実性が伴う場合があります。 4.2&# この試験方法は試験方法 C1368 (&#“一定応力率曲げ試験&#”)に関連していますが、C1368 は対応する曲げ強度を決定するために一定の応力率を使用しますが、これは試験方法では、一定の応力を使用して、破損に至るまでの時間を決定します。 一般に、この試験方法で生成されたデータは、一定のストレス率試験によるデータと比較して、実際の使用条件をよりよく表している可能性があります。 ただし、テスト時間の観点から見ると、一定ストレス テストは本質的に一定ストレス率テストよりも大幅に時間がかかります。 4.3&# この試験方法における曲げ応力の計算は、材料が等方性かつ均質であり、引張弾性率と圧縮弾性率が同一であり、材料が線形であることを前提とした単純な弾性梁理論に基づいています。 弾力性のある。 粒子サイズは、平均線形切片法 (試験方法 E112) で測定したビーム深さの 50 分の 1 (1/50 ) を超えてはなりません。 材料の粒子サイズが二峰性であるか、粒子サイズの分布が広い場合、制限はより大きな粒子に適用される必要があります。 4.4 試験片のサイズと試験治具は、参考文献 (4、5) で説明されているように、実際の構成と結果として生じる誤差のバランスを提供する試験方法 C1161 および C1368 に従って選択されています。 4.5 データは、適用応力の対数と破損までの時間の対数を実験データに回帰することによって評価されます。 べき乗則亀裂速度関数を適用して、遅い亀裂成長パラメータを決定することをお勧めします。 これの導出と代替亀裂速度関数については、付録 X1 を参照してください。 注5:&# 

ASTM C1576-05(2017) 規範的参照

  • ASTM C1145 アドバンストセラミックス標準用語
  • ASTM C1161 最先端セラミックスの室温における曲げ強度の標準試験方法
  • ASTM C1322 先端セラミックにおけるフラクタル化と破壊原因の特性評価の標準的な手法
  • ASTM C1368 周囲温度での一定応力速度強度試験による先進セラミックスの遅い亀裂成長パラメータを決定するための標準試験方法
  • ASTM C1465 高温一定応力率曲げ試験による先進セラミックスの遅い亀裂成長パラメータを決定するための標準試験方法
  • ASTM E112 平均粒子径を測定するための標準試験方法
  • ASTM E1823 疲労および破壊試験に関する標準用語
  • ASTM E337 湿球および乾球湿度計による湿度測定の標準試験方法(湿球温度および乾球温度の測定)
  • ASTM E399 金属材料の平面ひずみ破壊靱性の標準試験方法
  • ASTM E4 試験機の荷重校正の標準的な方法
  • ASTM E6 機械的試験方法に関連する標準用語

ASTM C1576-05(2017) 発売履歴

  • 2005 ASTM C1576-05(2017) 室温定圧曲げ試験(応力破断)による先進セラミックスの遅い亀裂成長パラメータを決定するための標準試験方法
  • 2005 ASTM C1576-05(2010) 周囲温度での一定応力曲げ試験 (応力破断) を使用して、一体型先進セラミックスの遅い亀裂成長パラメータを決定するための標準試験方法
  • 2005 ASTM C1576-05 室温での一定応力曲げ試験(応力亀裂)による先進セラミックスの遅い亀裂成長パラメータを決定するための標準試験方法
室温定圧曲げ試験(応力破断)による先進セラミックスの遅い亀裂成長パラメータを決定するための標準試験方法



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