ASTM C1368-18
周囲温度での一定応力速度強度試験による先進セラミックスの遅い亀裂成長パラメータを決定するための標準試験方法

規格番号
ASTM C1368-18
制定年
2018
出版団体
American Society for Testing and Materials (ASTM)
最新版
ASTM C1368-18
範囲
4.1&# 使用中の多くの構造用セラミック部品では、SCG プロセスによって制御される寿命によって使用が制限されることがよくあります。 この試験方法は、特定の環境下でのセラミック材料の相対的な SCG 感受性を評価するための経験的パラメーターを提供します。 さらに、この試験方法は、SCG に対する処理変数と組成の影響、および新規開発または既存の材料の強度挙動に対する影響を確立する可能性があるため、さらなる修正に向けて材料処理を調整および最適化することができます。 要約すると、この試験方法は、材料開発、品質管理、特性評価、および限定的な設計データ生成の目的に使用できます。 一定応力速度試験の従来の分析は、多くの重要な仮定に基づいており、その中で最も重要なものを次の段落にリストします。 4.2&# 長方形の梁試験片または等二軸ディスク曲げ試験片の曲げ応力の計算は、材料が等方性で均質であること、引張および圧縮における弾性率を仮定した単純な梁理論に基づいています。 は同一であり、材料は線形弾性です。 平均粒径はビームの厚さの 50 分の 1 以下である必要があります。 4.3 長方形ビーム試験片の試験片のサイズと固定具は、参考文献 (4、5) で説明されているように、実際の構成と結果として生じる誤差とのバランスを提供する試験方法 C1161 に準拠する必要があります。 長方形ビーム試験片のこの試験方法では、4 点試験構成のみが許可されます。 3 点テスト構成は許可されません。 リング・オン・リング曲げで試験されるディスク試験片の試験片のサイズと固定具は、試験方法 C1499 に従って選択する必要があります。 直接引張強度試験の試験片は、試験方法 C1273 に従って選択する必要があります。 4.4 SCG パラメータ (n および D) は、測定された実験データを強度と適用応力率の間の数学的関係、log σf = 1/(n+1) に当てはめることによって決定されます。 ログ &#σ&#˙ + log D。 この関係の導出に関する基本的な前提は、SCG が経験的なべき乗則の亀裂速度 v = A[KI/KIC]n によって支配されるということです (付録 X1 を参照)。

ASTM C1368-18 規範的参照

  • ASTM C1145 アドバンストセラミックス標準用語
  • ASTM C1161 最先端セラミックスの室温における曲げ強度の標準試験方法
  • ASTM C1239 アドバンストセラミックの一軸強度データとワイブル分布パラメータを報告するための標準的な方法*2018-07-01 更新するには
  • ASTM C1273 バルクアドバンスセラミックスの室温における引張強さの標準試験方法
  • ASTM C1322 先端セラミックにおけるフラクタル化と破壊原因の特性評価の標準的な手法
  • ASTM C1499 アドバンストセラミックスの室温における単調等軸曲げ強度の標準試験方法*2019-07-01 更新するには
  • ASTM E1823 疲労および破壊試験に関する標準用語
  • ASTM E337 湿球および乾球湿度計による湿度測定の標準試験方法(湿球温度および乾球温度の測定)
  • ASTM E4 試験機の荷重校正の標準的な方法
  • ASTM E6 機械的試験方法に関連する標準用語
  • IEEE/ASTM SI 10 アメリカ国家計量基準

ASTM C1368-18 発売履歴

  • 2018 ASTM C1368-18 周囲温度での一定応力速度強度試験による先進セラミックスの遅い亀裂成長パラメータを決定するための標準試験方法
  • 2010 ASTM C1368-10(2017) 室温定圧強度試験による先進セラミックスの遅い亀裂成長パラメータを決定するための標準試験方法
  • 2010 ASTM C1368-10 一定応力速度強度試験による、周囲温度における先進セラミックスの遅い亀裂成長パラメータを決定するための標準試験方法
  • 2006 ASTM C1368-06 室温での一定応力率曲げ試験を使用した、先進セラミックの遅い亀裂成長パラメータの標準試験方法
  • 2001 ASTM C1368-01 周囲温度での一定応力率曲げ試験による先進セラミックスの遅い亀裂成長パラメータを決定するための標準試験方法
  • 2000 ASTM C1368-00 室温での一定応力率曲げ試験による先進セラミックスの遅い亀裂成長係数を決定するための標準試験方法
周囲温度での一定応力速度強度試験による先進セラミックスの遅い亀裂成長パラメータを決定するための標準試験方法



© 著作権 2024