ASTM B748-90(2016)
走査型電子顕微鏡による断面測定により金属皮膜の厚さを測定する試験方法
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ASTM B748-90(2016)
規格番号
ASTM B748-90(2016)
制定年
1990
出版団体
American Society for Testing and Materials (ASTM)
状態
入れ替わる
に置き換えられる
ASTM B748-90(2021)
最新版
ASTM B748-90(2021)
範囲
4.1 この試験方法は、金属コーティングおよび複合コーティングの個々の層の厚さ、特に光学顕微鏡で通常測定されるよりも薄い層の厚さを直接測定するのに役立ちます。 4.2 このテスト方法は受け入れテストに適しています。 4.3 この試験方法は、非常に狭い領域のコーティングの厚さを測定するためのものであり、平均または最小の厚さ自体を測定するものではありません。 4.4 この試験方法による正確な測定には、通常、特に倍率が高い場合に非常に慎重なサンプル前処理が必要です。 4.5 コーティングの厚さは、使用中のコーティングのパフォーマンスにおいて重要な要素です。 1.1 この試験方法では、走査型電子顕微鏡 (SEM) による断面検査による金属コーティングの厚さの測定を対象としています。 1.2 SI 単位で記載された値は標準とみなされます。 この規格には他の測定単位は含まれません。 1.3 この規格は、その使用に関連する安全上の懸念がある場合、そのすべてに対処することを目的とするものではありません。 適切な安全衛生慣行を確立し、使用前に規制上の制限の適用可能性を判断することは、この規格のユーザーの責任です。
ASTM B748-90(2016) 規範的参照
ASTM E3
金属組織学的試料作製の標準ガイド
*
,
1995-04-09 更新するには
ASTM E766
走査型電子顕微鏡の倍率の標準校正仕様
*
,
1998-04-09 更新するには
ASTM B748-90(2016) 発売履歴
2021
ASTM B748-90(2021)
走査型電子顕微鏡を使用して断面を測定することにより、金属コーティングの厚さを測定する標準的な試験方法
1990
ASTM B748-90(2016)
走査型電子顕微鏡による断面測定により金属皮膜の厚さを測定する試験方法
1990
ASTM B748-90(2010)
走査型電子顕微鏡による断面の測定による金属コーティングの厚さを測定するための標準試験方法
1990
ASTM B748-90(2006)
走査型電子顕微鏡による断面測定により金属皮膜の厚さを求める方法
1990
ASTM B748-90(2001)
走査型電子顕微鏡で断面を測定することで金属皮膜の厚さを測定する標準的な試験方法
1990
ASTM B748-90(1997)
走査型電子顕微鏡による断面測定により金属皮膜の厚さを求める方法
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