ASTM B748-90(2006)
走査型電子顕微鏡による断面測定により金属皮膜の厚さを求める方法

規格番号
ASTM B748-90(2006)
制定年
1990
出版団体
American Society for Testing and Materials (ASTM)
状態
に置き換えられる
ASTM B748-90(2010)
最新版
ASTM B748-90(2021)
範囲
この試験方法は、金属コーティングおよび複合コーティングの個々の層の厚さ、特に光学顕微鏡で通常測定されるよりも薄い層の厚さを直接測定するのに役立ちます。 このテスト方法は受け入れテストに適しています。 この試験方法は、非常に狭い領域のコーティングの厚さを測定するためのものであり、平均または最小の厚さ自体を測定するものではありません。 この試験方法による正確な測定には、通常、特に倍率が高い場合に非常に慎重なサンプル前処理が必要です。 コーティングの厚さは、使用中のコーティングの性能において重要な要素です。 1.1 この試験方法は、走査型電子顕微鏡 (SEM) による断面の検査による金属コーティングの厚さの測定を対象としています。 この規格は、すべてのコーティングに対処することを目的とするものではありません。 その使用に関連する安全上の懸念がある場合には、その懸念についても説明します。 適切な安全衛生慣行を確立し、使用前に規制上の制限の適用可能性を判断することは、この規格のユーザーの責任です。

ASTM B748-90(2006) 規範的参照

  • ASTM E3 金属組織学的試料作製の標準ガイド*1995-04-09 更新するには
  • ASTM E766 走査型電子顕微鏡の倍率の標準校正仕様*1998-04-09 更新するには

ASTM B748-90(2006) 発売履歴

  • 2021 ASTM B748-90(2021) 走査型電子顕微鏡を使用して断面を測定することにより、金属コーティングの厚さを測定する標準的な試験方法
  • 1990 ASTM B748-90(2016) 走査型電子顕微鏡による断面測定により金属皮膜の厚さを測定する試験方法
  • 1990 ASTM B748-90(2010) 走査型電子顕微鏡による断面の測定による金属コーティングの厚さを測定するための標準試験方法
  • 1990 ASTM B748-90(2006) 走査型電子顕微鏡による断面測定により金属皮膜の厚さを求める方法
  • 1990 ASTM B748-90(2001) 走査型電子顕微鏡で断面を測定することで金属皮膜の厚さを測定する標準的な試験方法
  • 1990 ASTM B748-90(1997) 走査型電子顕微鏡による断面測定により金属皮膜の厚さを求める方法
走査型電子顕微鏡による断面測定により金属皮膜の厚さを求める方法



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