VDI/VDE 2630 Blatt 1.1-2016
寸法測定におけるコンピューター断層撮影の基礎と定義
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VDI/VDE 2630 Blatt 1.1-2016
規格番号
VDI/VDE 2630 Blatt 1.1-2016
制定年
2016
出版団体
Association of German Mechanical Engineers
最新版
VDI/VDE 2630 Blatt 1.1-2016
交換する
VDI/VDE 2630 Blatt 1.1-2009
VDI/VDE 2630 Blatt 1.1-2014
範囲
この規格は工業用コンピュータ断層撮影 (CT) の用語を定義しています。 コンポーネントの寸法測定 (長さや角度など) のための CT アプリケーションが主な焦点です。 定義された用語は、他の CT アプリケーションにも適用されます。 これらは、一般的な用語と定義、放射線源、放射線検出器、スキャン パラメータ、画像再構成、アーティファクト、寸法測定などの一般的な主題領域に分類されます。 そのため、単純な割り当てが保証されます。 さらに、インデックスは特定の用語の高速検索をサポートします。 それぞれの用語に対応する説明と、必要に応じて関連する記号が表示されます。
VDI/VDE 2630 Blatt 1.1-2016 規範的参照
DIN 6814-1:2005
放射線技術分野の用語 第1部:適用範囲
DIN EN 12543-1:1999
非破壊検査 工業用非破壊検査用X線装置の焦点の特徴 その1 スキャン方式
DIN EN 12543-2:2008
非破壊検査 非破壊検査用工業用X線装置の焦点の特徴 第2部 ピンホールカメラX線撮影
DIN EN 12543-3:1999
非破壊検査 非破壊検査用工業用X線装置の焦点の特徴 第2部 スリットカメラX線撮影
DIN EN 12543-4:1999
非破壊検査 非破壊検査用工業用X線装置の焦点の特徴 第4回 エッジ法
DIN EN 12543-5:1999
非破壊検査 非破壊検査用工業用 X 線システムの焦点の特性 パート 5: 最小および最大焦点 X 線管の有効焦点サイズの測定
DIN EN 12544-1:1999
非破壊検査 X線管電圧の測定と評価 その1:分圧法
DIN EN 12544-2:2000
非破壊検査 X 線管電圧の評価と測定 パート 2: 厚膜フィルター法による安定性試験 ドイツ語版 EN 12544-2:2000
DIN EN 12544-3:1999
非破壊検査 X線管電圧の測定と評価 その2:分光測定
DIN EN 12679:1999
非破壊検査 工業用 X 線イメージング源の寸法の決定 X 線イメージング方法
DIN EN 13068-1:2000
非破壊検査 X線検査検査 第1部:画像特性の定量測定
DIN EN 13068-2:2000
非破壊検査 X線検査検査 第2部 撮像素子の長期安定性検査
DIN EN 1330-10:2003
非破壊検査 用語 第 10 部: 外観検査の用語
DIN EN 1330-11:2007
非破壊検査. 用語. パート 11: 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折で使用される用語
DIN EN 1330-1:2015
非破壊検査、用語、パート 1: 一般用語の用語集、3 つの言語バージョン EN 1330-1-2014
DIN EN 1330-2:1998
非破壊検査 用語 パート 2: 非破壊検査方法の一般用語
DIN EN 1330-3:1997
非破壊検査 用語 第 3 部: 工業用 X 線検査用語
DIN EN 1330-4:2010
非破壊検査 用語 パート 4: 超音波検査の用語
DIN EN 1330-8:1998
非破壊検査 用語 パート 8: シール検査の用語 3 か国語
DIN EN 1330-9:2009
非破壊検査 用語 パート 9: 音響伝播検査の用語 三か国語版 EN 1330-9-2009
DIN EN ISO 10360-1:2003
製品の幾何学的仕様 (GPS) 座標測定機 (CMM) の受け入れおよび再認定テスト パート 1: 用語
DIN EN ISO 10360-2:2010
製品幾何学的仕様 (GPS) 座標測定機 (CMM) の受け入れテストおよび再検査テスト パート 2: 寸法測定用の座標測定機 (ISO 10360-2-2009) ドイツ語版 EN ISO 10360-2-2009
DIN EN ISO 10360-3:2000
製品幾何数量仕様書(GPS) 三次元測定機(CMM)の受入・再検査試験 その3 回転テーブルの軸を4軸とする三次元測定機
DIN EN ISO 10360-4:2003
製品の幾何学的仕様 (GPS)、座標測定機 (CMM) の受け入れおよび再校正テスト、パート 4: 走査型座標測定機
VDI/VDE 2630 Blatt 1.1-2016 発売履歴
2016
VDI/VDE 2630 Blatt 1.1-2016
寸法測定におけるコンピューター断層撮影の基礎と定義
2009
VDI/VDE 2630 Blatt 1.1-2009
寸法測定におけるコンピューター断層撮影の基礎と定義
2007
VDI/VDE 2630 Blatt 1.1-2007
寸法測定におけるコンピューター断層撮影 - 基本と定義
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