IEEE 1505.1-2015
IEEE Std 1505 の高密度、シングル アンテナ アレイの電子テスト要件を利用したユニバーサル テスト インターフェイスのピン配列図

規格番号

IEEE 1505.1-2015

制定年

2015

出版団体

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

状態

入れ替わる

に置き換えられる

IEEE 1505.1-2019

最新版

IEEE 1505.1-2019

IEEE 1505.1-2015 発売履歴

• 1970 IEEE 1505.1-2019 IEEE Std 1505 を使用した、高密度、単層電子テスト要件向けのユニバーサル テスト インターフェイス ピン マップ構成の IEEE 規格
• 2015 IEEE 1505.1-2015 IEEE Std 1505 の高密度、シングル アンテナ アレイの電子テスト要件を利用したユニバーサル テスト インターフェイスのピン配列図
• 2008 IEEE 1505.1-2008 IEEE Std 1505™ ユニバーサル テスト インターフェイス ピン マップ フレームを利用したテストのための IEEE 規格。 高密度、シングル アンテナ アレイの電子テスト要件に対応