IEEE 1505.1-2008
IEEE Std 1505™ ユニバーサル テスト インターフェイス ピン マップ フレームを利用したテストのための IEEE 規格。 高密度、シングル アンテナ アレイの電子テスト要件に対応

規格番号

IEEE 1505.1-2008

制定年

2008

出版団体

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

状態

入れ替わる

に置き換えられる

IEEE 1505.1-2015

最新版

IEEE 1505.1-2019

範囲

この試用規格の範囲は、IEEE 1505™ 1 受信機フィクスチャ インターフェイス (RFI) を利用したピン マップの定義です。 この試用規格内で定義されたピン マップは、軍事および航空宇宙用の自動試験装置 (ATE) の試験アプリケーションに適用されます。

IEEE 1505.1-2008 発売履歴

• 1970 IEEE 1505.1-2019 IEEE Std 1505 を使用した、高密度、単層電子テスト要件向けのユニバーサル テスト インターフェイス ピン マップ構成の IEEE 規格
• 2015 IEEE 1505.1-2015 IEEE Std 1505 の高密度、シングル アンテナ アレイの電子テスト要件を利用したユニバーサル テスト インターフェイスのピン配列図
• 2008 IEEE 1505.1-2008 IEEE Std 1505™ ユニバーサル テスト インターフェイス ピン マップ フレームを利用したテストのための IEEE 規格。 高密度、シングル アンテナ アレイの電子テスト要件に対応