ASTM B530-09(2014)
磁気法によりコーティングの厚さを測定するための標準的な試験方法: 磁性および非磁性基板上の電気めっきニッケルコーティング
- 規格番号
- ASTM B530-09(2014)
- 制定年
- 2009
- 出版団体
- American Society for Testing and Materials (ASTM)
- 状態
- に置き換えられる
- ASTM B530-09(2021)
- 最新版
- ASTM B530-09(2021)
- 範囲
- 5.1&# コーティングの厚さは、多くの場合、その性能にとって重要です。 この磁気法は、一部のニッケル コーティングの厚さを非破壊的に測定し、仕様を承認するのに適しています。 5.2 この方法では、コーティングとその基材の磁気特性が、機器の校正調整に使用される参照標準の磁気特性と同じである必要があります。 5.3 この方法は、鋼上に 8% を超えるリンを含む自己触媒堆積されたニッケル - リン合金の厚さを測定するために使用すべきではありません。 これらのコーティングは、測定が熱処理前に行われる限り、試験方法 B499 にとって十分に非磁性であるため、その測定に適しています。 1.1 この試験方法は、磁性または非磁性基板上の電着ニッケル皮膜の厚さを非破壊的に測定するための磁気機器の使用を対象としています。 メーカーを補足することを目的としています。 機器の操作に関する説明書であり、機器を置き換えることを目的としたものではありません。 1.2 これらの機器は、磁石とコーティングと基材の組み合わせの間の磁気吸引力 (「磁気引き離し」として分類)、または磁束密度の変化を測定します。 プローブ内 (「電子」として分類)。 1.3&# この試験方法では、2 種類のコーティングと基板の組み合わせが考えられます。 タイプ A、磁性基板上のニッケル コーティング、およびタイプ B、非磁性基板上のニッケル コーティングです。 1.4&# 磁気引力の原理を使用する機器の有効測定範囲は、タイプ A コーティングの場合は最大 50 μm (2 ミル)、最大 25 μm (1 ミル) タイプ B コーティングの場合。 磁束密度の変化原理に基づいたゲージの場合、有効範囲ははるかに広く、両方のタイプのコーティングで最大 1 mm (40 ミル) 以上の測定を行うことができます。 1.5&# この試験方法に従って行われた測定は、1982 年に印刷された ISO 規格 8201;2361 の要件に準拠します。 1.6&# SI 単位で記載された値は次のようにみなされます。 標準。 括弧内の値は情報提供のみを目的としています。 1.7&# この規格は、その使用に関連する安全上の懸念がある場合、そのすべてに対処することを目的とするものではありません。 適切な安全衛生慣行を確立し、使用前に規制上の制限の適用可能性を判断することは、この規格のユーザーの責任です。
ASTM B530-09(2014) 規範的参照
- ASTM B487 断面顕微鏡観察による金属および酸化物の厚さを測定するための標準的な試験方法
- ASTM B499 磁性母材上の非磁性被膜の厚さを磁気法により測定する標準的な試験方法
- ASTM B504 電量法による金属皮膜の厚さを測定する標準的な試験方法
- ASTM B748 走査型電子顕微鏡を使用して断面を測定することにより、金属コーティングの厚さを測定する標準的な試験方法
- ISO 2361 磁性および非磁性基板上のニッケル電気めっきの膜厚を測定するための磁気的方法
ASTM B530-09(2014) 発売履歴
- 2021 ASTM B530-09(2021) 磁気法による皮膜厚さの標準試験方法: 磁性および非磁性基板上の電着ニッケル皮膜
- 2009 ASTM B530-09(2014) 磁気法によりコーティングの厚さを測定するための標準的な試験方法: 磁性および非磁性基板上の電気めっきニッケルコーティング
- 2009 ASTM B530-09 磁気法により磁性および非磁性基板上のニッケル電着皮膜の厚さを測定するための標準的な試験方法
- 2002 ASTM B530-02 磁気法により磁性および非磁性基板上のニッケル電着皮膜の厚さを測定するための標準的な試験方法
- 1996 ASTM B530-96 磁気法により磁性および非磁性基板上のニッケル電着皮膜の厚さを測定するための標準的な試験方法
