ASTM B530-02
磁気法により磁性および非磁性基板上のニッケル電着皮膜の厚さを測定するための標準的な試験方法

規格番号

ASTM B530-02

制定年

2002

出版団体

American Society for Testing and Materials (ASTM)

状態

入れ替わる

に置き換えられる

ASTM B530-09

最新版

ASTM B530-09(2021)

範囲

コーティングの厚さは、多くの場合、その性能にとって重要です。 この磁気法は、一部のニッケル コーティングの厚さを非破壊的に測定し、仕様を承認するのに適しています。 この方法では、コーティングとその基板の磁気特性が校正標準の磁気特性と同じである必要があります。 1.1 この試験方法は、磁性または非磁性基板上の電着ニッケル コーティングの厚さを非破壊的に測定するための磁気機器の使用を対象としています。 1.2 これらの機器は、磁石とコーティングと基板の組み合わせの間の磁気引力、または磁性体のいずれかを測定します。 コーティングとベース金属を通過する磁束経路の磁気抵抗。 1.3 この試験方法では、2 種類のコーティングと基板の組み合わせが存在します。 タイプ A、磁性基板上のニッケル コーティング、およびタイプ B、ニッケルです。 1.4 磁気引力の原理を使用する機器の有効測定範囲は、タイプ A コーティングの場合は最大 50 m、タイプ B コーティングの場合は最大 25 m です。 磁気抵抗ゲージの場合、有効範囲ははるかに広く、両方のタイプのコーティングで最大 1 mm 以上の測定を行うことができます。 1.5 この試験方法に従って行われた測定は、次のように ISO 規格 2361 の要件に準拠します。 この規格は、その使用に関連する安全上の懸念がある場合、そのすべてに対処することを目的とするものではありません。 適切な安全衛生慣行を確立し、使用前に規制上の制限の適用可能性を判断することは、この規格のユーザーの責任です。

ASTM B530-02 発売履歴

• 2021 ASTM B530-09(2021) 磁気法による皮膜厚さの標準試験方法: 磁性および非磁性基板上の電着ニッケル皮膜
• 2009 ASTM B530-09(2014) 磁気法によりコーティングの厚さを測定するための標準的な試験方法: 磁性および非磁性基板上の電気めっきニッケルコーティング
• 2009 ASTM B530-09 磁気法により磁性および非磁性基板上のニッケル電着皮膜の厚さを測定するための標準的な試験方法
• 2002 ASTM B530-02 磁気法により磁性および非磁性基板上のニッケル電着皮膜の厚さを測定するための標準的な試験方法
• 1996 ASTM B530-96 磁気法により磁性および非磁性基板上のニッケル電着皮膜の厚さを測定するための標準的な試験方法