ISO 17470:2004
マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型X線分光法による質点分析のガイド。

規格番号

ISO 17470:2004

制定年

2004

出版団体

International Organization for Standardization (ISO)

状態

撤回

に置き換えられる

ISO 17470:2014

最新版

ISO 17470:2014

範囲

この標準は、ポイントプローブや走査型電子顕微鏡の分光器を用いて、試料の特定体積（μmスケール）内のX線スペクトルを取得し、元素を同定し、特定の元素の存在を確認するための標準的な方法です。

ISO 17470:2004 発売履歴

• 2014 ISO 17470:2014 マイクロビーム分析 電子プローブ微量分析 波長分散型 X 線分光法による定性点分析ガイド
• 2004 ISO 17470:2004 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型X線分光法による質点分析のガイド。