JIS B 7440-5:2013
幾何学的製品仕様 (GPS) 座標測定機 (CMM) の受け入れおよび再テスト パート 5: 多針テスト システムを使用した座標測定機 (CMM)

規格番号

JIS B 7440-5:2013

制定年

2013

出版団体

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

状態

入れ替わる

に置き換えられる

JIS B 7440-5:2022

最新版

JIS B 7440-5:2022

交換する

JIS B 7440-5:2004

範囲

This Standard specifies acceptance and periodic reverification tests of CMM performance with contacting probing systems and is only applicable to CMMs using —any type of contacting probing system, —a discrete point probing mode, and —spherical or hemispherical stylus tip(s).

JIS B 7440-5:2013 規範的参照

• ISO/IEC Guide 99 
• JIS B 0641-1 製品の幾何学的仕様 (GPS) ワーク測定による検査および測定装置 パート 1: 技術要件への適合性を判断するためのルール
• JIS B 7440-1 幾何製品仕様 (GPS) 座標測定機 (CMM) の受け入れおよび再検証テスト パート 1: 語彙
• JIS B 7440-2 幾何学的製品仕様 (GPS) 座標測定機 (CMM) の受け入れおよび再検証テスト パート 2: 寸法測定用の座標測定機

JIS B 7440-5:2013 発売履歴

• 2022 JIS B 7440-5:2022 幾何製品仕様書 (GPS) 座標測定システム (CMS) の受け入れおよび再検証テスト パート 5: 座標測定機 (CMM)
• 2013 JIS B 7440-5:2013 幾何学的製品仕様 (GPS) 座標測定機 (CMM) の受け入れおよび再テスト パート 5: 多針テスト システムを使用した座標測定機 (CMM)
• 2004 JIS B 7440-5:2004 製品形状の技術仕様 (GPS) 座標測定機 (CMM) の受け入れおよび再検査テスト パート 5: 多針テスト システムを使用した座標測定機