GB/T 29850-2013
太陽電池用シリコン材料の補償度の測定方法 (英語版)

規格番号

GB/T 29850-2013

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2013

出版団体

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

最新版

GB/T 29850-2013

範囲

この規格は、太陽電池に使用されるシリコン材料の補償度の測定および分析方法を規定しています。 この規格は、太陽電池に使用されるノンドープシリコン材料の補償度の測定と分析に適用されます。

GB/T 29850-2013 規範的参照

• GB/T 14264 半導体材料用語
• GB/T 24581 低温フーリエ変換赤外分光法によるシリコン単結晶中のIII族およびV族不純物含有量の測定*， 2022-03-09 更新するには
• GB/T 29057 ゾーンメルトと分光分析による多結晶シリコン棒の評価手順*， 2023-08-06 更新するには
• GB/T 4326 固有半導体単結晶ホール移動度とホール係数の測定方法

GB/T 29850-2013 発売履歴

• 2013 GB/T 29850-2013 太陽電池用シリコン材料の補償度の測定方法