GB/T 14620-2013
薄膜集積回路用アルミナセラミック基板 (英語版)

規格番号

GB/T 14620-2013

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2013

出版団体

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

最新版

GB/T 14620-2013

交換する

GB/T 14620-1993

範囲

This standard specifies the requirements, test methods, inspection rules, marking, packaging, transportation and storage of alumina ceramic substrates for thin film integrated circuits. This standard applies to the production and procurement of alumina ceramic substrates for thin film integrated circuits (hereinafter referred to as "substrates"), and alumina ceramic substrates for chip components using thin film technology can also be used as a reference.

GB/T 14620-2013 規範的参照

• GB/T 14619-2013 厚膜集積回路用アルミナセラミック基板
• GB/T 16534-2009 ファインセラミックスの室温硬さ試験方法
• GB/T 1958 製品の幾何学的仕様 (GPS) 幾何公差のテストと検証*， 2017-11-01 更新するには
• GB/T 2413 圧電セラミックスの体積密度の測定方法
• GB/T 2828.1 目録抜き取り検査手順その1：合格品質限界（AQL）から探すロットごとの抜き取り検査計画
• GB/T 2829 定期検査の計数サンプリング手順と表（プロセスの安定性の検査に適用）
• GB/T 5593 電子部品構造用セラミック材料*， 2015-05-15 更新するには
• GB/T 5594.3 電子部品用構造用セラミック材料の性能試験方法 第3部 平均線膨張係数の試験方法*， 2015-05-15 更新するには
• GB/T 5594.4 電子部品用構造用セラミック材料の性能試験方法 第4部 誘電率及び誘電正接の試験方法*， 2015-05-15 更新するには
• GB/T 5594.5 電子部品構造におけるセラミック材料の性能試験方法 体積抵抗率試験方法
• GB/T 5594.7 電子部品用構造用セラミック材料の性能試験方法 - 第 7 部: 液体透過性の測定*， 2015-05-15 更新するには
• GB/T 5598 酸化ベリリウムセラミックスの熱伝導率の求め方*， 2015-05-15 更新するには
• GB/T 6062 幾何学的製品仕様 (GPS)、表面構造、プロファイル法、接触 (スタイラス) 機器の公称特性。
• GB/T 6900 アルミナシリカ耐火物の化学分析*， 2016-08-29 更新するには
• GB/T 9531.1 電子セラミック部品の技術的条件
• GJB 1201.1-1991 固体材料の高温熱拡散率の試験方法 レーザーパルス法
• GJB 548B-2005 マイクロ電子デバイスのテスト方法と手順

GB/T 14620-2013 発売履歴

• 2013 GB/T 14620-2013 薄膜集積回路用アルミナセラミック基板
• 1993 GB/T 14620-1993 薄膜集積回路用アルミナセラミック基板