GB/T 5594.4-2015
電子部品用構造用セラミック材料の性能試験方法 第4部 誘電率及び誘電正接の試験方法 (英語版)

規格番号

GB/T 5594.4-2015

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2015

出版団体

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

最新版

GB/T 5594.4-2015

交換する

GB/T 5594.4-1985

範囲

GB/T 5594 のこの部分では、デバイス部品、真空電子デバイス、抵抗基板、半導体、集積回路基板に使用される電子セラミック材料の誘電率と誘電正接の試験方法を規定しています。 このパートは、デバイス部品、真空電子デバイス、抵抗基板、半導体および集積回路基板に使用される電子セラミック材料の、周波数 1 MHz、温度範囲室温から 500 °C における誘電率および誘電正接に適用されます。 テスト。

GB/T 5594.4-2015 規範的参照

• GB/T 5593-2015 電子部品構造用セラミック材料
• GB/T 9530-1988 電子セラミック用語

GB/T 5594.4-2015 発売履歴

• 2015 GB/T 5594.4-2015 電子部品用構造用セラミック材料の性能試験方法 第4部 誘電率及び誘電正接の試験方法
• 1985 GB/T 5594.4-1985 電子部品の構造におけるセラミックス材料の性能試験方法 誘電正接試験方法

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